CT系列中端探针台
一、产品概述
艾博纳 CT系列中端探针台 是一款面向半导体器件、二维材料、MEMS 与传感器测试需求的科研与工程两用型探针测试平台，集成稳定的机械结构、精密探针操控、显微观察系统及多接口电学测试能力，在性能、扩展性与成本之间取得良好平衡。CT 系列定位于高校科研主力机型与企业研发常用平台，既可满足日常 I-V / C-V / 四探针等基础电学测试，也支持低噪声测试与多探针协同测试，是从入门级探针台升级的理想选择。
一、产品概述
艾博纳 CT系列中端探针台 是一款面向半导体器件、二维材料、MEMS 与传感器测试需求的科研与工程两用型探针测试平台，集成稳定的机械结构、精密探针操控、显微观察系统及多接口电学测试能力，在性能、扩展性与成本之间取得良好平衡。CT 系列定位于高校科研主力机型与企业研发常用平台，既可满足日常 I-V / C-V / 四探针等基础电学测试，也支持低噪声测试与多探针协同测试，是从入门级探针台升级的理想选择。
二、产品特点与优势
1. 中端定位，性能与成本平衡
相比基础型探针台，CT在结构稳定性与操控精度上全面提升，相比高端综合平台，配置更精简、维护与采购成本更可控
2. 稳定可靠的机械结构设计
高刚性底座与载物平台，减小探针接触过程中的机械漂移，XY 大行程平台，适合多器件、多点位测试
3. 精密探针操控系统
探针操控器支持 XYZ 三维微调；探针运动手感细腻，重复定位一致性好；支持多探针同时对准与测试
4. 显微观察与对准效率高
可配置长工作距离显微镜；同轴或倾斜观察方式可选，提升落针成功率
5. 良好的电学测试兼容性
标配 BNC 接口，满足常规电学测试；可选 Triax 低噪声接口，支持低电流测量；兼容主流源表、LCR 表与测试系统
三、典型应用场景
半导体分立器件、简单集成器件的常温电学测试；二维材料器件（Graphene、MoS₂、WSe₂ 等）输运特性测试；MEMS / 传感器器件电阻、电容、稳定性分析；企业研发与高校科研实验中的日常探针测试